Fortell venner om denne varen:
Atom Probe Microscopy - Springer Series in Materials Science Baptiste Gault 2012 edition
Pris
NOK 2.669
Bestillingsvarer
Forventes levert 4. - 12. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Baptiste Gault
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Atom Probe Microscopy - Springer Series in Materials Science
Baptiste Gault
This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.
490 pages, 78 black & white illustrations, 116 colour illustrations, 24 black & white tables, 3 colo
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 14. mai 2012 |
| ISBN13 | 9781461434351 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 396 |
| Mål | 180 × 244 × 21 mm · 741 g |
| Språk | Engelsk |