
Fortell venner om denne varen:
Atom Probe Microscopy - Springer Series in Materials Science 2012 edition
Baptiste Gault
Pris
NOK 2.669
Bestillingsvarer
Forventes levert 6. - 14. aug
Legg til iMusic ønskeliste
Eller
Finnes også som:
Atom Probe Microscopy - Springer Series in Materials Science 2012 edition
Baptiste Gault
This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.
490 pages, 78 black & white illustrations, 116 colour illustrations, 24 black & white tables, 3 colo
Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
Utgitt | 14. mai 2012 |
ISBN13 | 9781461434351 |
Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
Antall sider | 396 |
Mål | 180 × 244 × 21 mm · 748 g |
Språk | Engelsk |
Se alt med Baptiste Gault ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )