Fortell venner om denne varen:
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials David C. Joy 2013 edition
Pris
NOK 509
Bestillingsvarer
Forventes levert 5. - 13. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra David C. Joy
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials
David C. Joy
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.
72 pages, 13 black & white illustrations, 16 colour illustrations, 2 black & white tables, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 14. september 2013 |
| ISBN13 | 9781461486596 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 64 |
| Mål | 155 × 235 × 8 mm · 158 g |
| Språk | Engelsk |