Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials - David C. Joy - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461486596 - 14. september 2013
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials 2013 edition

Pris
NOK 509

Bestillingsvarer

Forventes levert 5. - 13. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra David C. Joy
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.


72 pages, 13 black & white illustrations, 16 colour illustrations, 2 black & white tables, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 14. september 2013
ISBN13 9781461486596
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 64
Mål 155 × 235 × 8 mm   ·   158 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**