Fortell venner om denne varen:
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Otto Meyer Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition
Pris
NOK 519
Bestillingsvarer
Forventes levert 10. - 18. jun
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2
Otto Meyer
The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.
508 pages, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 30. januar 2012 |
| ISBN13 | 9781461588818 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 491 |
| Mål | 178 × 254 × 26 mm · 879 g |
| Språk | Engelsk |
| Redaktør | Meyer, Otto |
Mer med Otto Meyer
Vis alleMere med samme udgiver
Flere i samme serie
Se alt med Otto Meyer ( f.eks. Innbunden bok , Pocketbok og DVD )