Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30. januar 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Pris
NOK 519

Bestillingsvarer

Forventes levert 10. - 18. jun
Legg til iMusic ønskeliste
eller

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 30. januar 2012
ISBN13 9781461588818
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 491
Mål 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Språk Engelsk  
Redaktør Meyer, Otto

Mer med Otto Meyer

Vis alle

Mere med samme udgiver

Flere i samme serie