Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: - Ugo Valdre - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461595397 - 25. november 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Ugo Valdre
Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition

Pris
NOK 509

Bestillingsvarer

Forventes levert 4. - 12. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Ugo Valdre

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

319 pages, 156 black & white illustrations, 3 colour illustrations

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 25. november 2012
Opprinelig utgitt 1989
ISBN13 9781461595397
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 319
Mål 170 × 244 × 17 mm   ·   530 g
Språk Engelsk  
Redaktør Valdre, Ugo

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Ugo Valdre