CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Bøker - Materials Research Society - 9781605111285 - 19. november 2009
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Pris
NOK 1.289

Bestillingsvarer

Forventes levert 17. - 31. jul

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

179 pages, illustrations

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 19. november 2009
ISBN13 9781605111285
Utgivere Materials Research Society
Antall sider 194
Mål 160 × 236 × 18 mm   ·   432 g
Språk Engelsk  
Redaktør Butterbaugh, Jeffery W.
Redaktør Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Redaktør Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Redaktør Rachmady, Willy
Redaktør Taylor, Bill

Mer fra samme **utgiver**