Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - Bøker - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 4. desember 2017
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

Pris
NOK 1.029

Bestillingsvarer

Forventes levert 27. jul - 4. aug
Få varsel om nye utgivelser fra Sayil

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Media Bøker     Bok
Utgitt 4. desember 2017
ISBN13 9783319696720
Utgivere Springer International Publishing AG
Antall sider 93
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
Språk Tysk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Sayil ( f.eks. Bok )