Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Bøker - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 18. juli 2018
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

Pris
NZ$ 97,50

Bestillingsvarer

Forventes levert 16. - 24. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 18. juli 2018
ISBN13 9783319912035
Utgivere Springer International Publishing AG
Antall sider 135
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
Språk Fransk  

Se alt med Ireneusz Mrozek ( f.eks. Pocketbok og Innbunden bok )