Fortell venner om denne varen:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek 1st ed. 2019 edition
Pris
NOK 529
Bestillingsvarer
Forventes levert 5. - 13. aug
Få varsel om nye utgivelser fra Ireneusz Mrozek
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 18. juli 2018 |
| ISBN13 | 9783319912035 |
| Utgivere | Springer International Publishing AG |
| Antall sider | 135 |
| Mål | 150 × 220 × 20 mm · 454 g |
| Språk | Fransk |