Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21. februar 2006
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Pris
NOK 1.749

Bestillingsvarer

Forventes levert 26. aug - 9. sep

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 21. februar 2006
Opprinelig utgitt 2005
ISBN13 9783540262428
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 420
Mål 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Språk Tysk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald

Mer fra samme **utgiver**