Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22. februar 2006
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

Bharat Bhushan

Pris
NOK 1.549

Bestillingsvarer

Forventes levert 24. okt - 3. nov
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 22. februar 2006
ISBN13 9783540269090
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 378
Mål 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Språk Tysk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald

Vis alle

Mer med Bharat Bhushan