
Fortell venner om denne varen:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition
Bharat Bhushan
Pris
NOK 1.549
Bestillingsvarer
Forventes levert 24. okt - 3. nov
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition
Bharat Bhushan
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
Utgitt | 22. februar 2006 |
ISBN13 | 9783540269090 |
Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
Antall sider | 378 |
Mål | 166 × 243 × 21 mm · 716 g |
Språk | Tysk |
Redaktør | Bhushan, Bharat |
Redaktør | Fuchs, Harald |
Vis alle
Mer med Bharat Bhushan
Se alt med Bharat Bhushan ( f.eks. Innbunden bok , Pocketbok og Bok )