Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22. februar 2006
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

Pris
NOK 1.439

Bestillingsvarer

Forventes levert 7. - 15. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Bharat Bhushan
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 22. februar 2006
ISBN13 9783540269090
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 378
Mål 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Språk Tysk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald

Mer med Bharat Bhushan

Vis alle

Mer fra samme **utgiver**