Fortell venner om denne varen:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Bharat Bhushan 2006 edition
Pris
NOK 1.439
Bestillingsvarer
Forventes levert 7. - 15. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Bharat Bhushan
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
Bharat Bhushan
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 22. februar 2006 |
| ISBN13 | 9783540269090 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 378 |
| Mål | 166 × 243 × 21 mm · 716 g |
| Språk | Tysk |
| Redaktør | Bhushan, Bharat |
| Redaktør | Fuchs, Harald |