Fortell venner om denne varen:
Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology Donna R. Kemp 1st edition
Pris
NOK 1.439
Bestillingsvarer
Forventes levert 22. - 30. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Donna R. Kemp
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology
Donna R. Kemp
Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.
338 pages, 7 black & white tables, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 18. oktober 2006 |
| ISBN13 | 9783540373186 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 338 |
| Mål | 155 × 235 × 19 mm · 648 g |
| Språk | Engelsk |
| Redaktør | Bhushan, Bharat |
| Redaktør | Fuchs, Harald |
| Redaktør | Kawata, Satoshi |