Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 18. oktober 2006
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

Pris
NOK 1.439

Bestillingsvarer

Forventes levert 22. - 30. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Donna R. Kemp
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.


338 pages, 7 black & white tables, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 18. oktober 2006
ISBN13 9783540373186
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 338
Mål 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
Språk Engelsk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald
Redaktør Kawata, Satoshi

Mer med Donna R. Kemp

Vis alle

Mer fra samme **utgiver**