Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540740827 - 11. januar 2008
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology 2008 edition

Pris
NOK 1.449

Bestillingsvarer

Forventes levert 30. jun - 8. jul

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

447 pages, 189 black & white illustrations, 27 colour illustrations, 25 black & white tables

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 11. januar 2008
ISBN13 9783540740827
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 387
Mål 165 × 243 × 21 mm   ·   725 g
Språk Tysk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald
Redaktør Tomitori, Masahiko

Mere med samme udgiver