Fortell venner om denne varen:
Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition
Pris
NOK 1.449
Bestillingsvarer
Forventes levert 9. - 17. sep
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology
Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.
279 pages, 14 black & white tables, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 4. november 2008 |
| ISBN13 | 9783540850380 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 224 |
| Mål | 162 × 244 × 16 mm · 594 g |
| Språk | Tysk |
| Redaktør | Bhushan, Bharat |
| Redaktør | Fuchs, Harald |