Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology -  - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 4. november 2008
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition


Få en e-post når varen er tilgjengelig
Har du en profil? Logg inn
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.


279 pages, 14 black & white tables, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 4. november 2008
ISBN13 9783540850380
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 224
Mål 162 × 244 × 16 mm   ·   594 g
Språk Tysk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald

Mer fra samme **utgiver**