Fortell venner om denne varen:
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Mathias Schubert Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition
Pris
NOK 2.199
Bestillingsvarer
Forventes levert 5. - 13. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Mathias Schubert
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics
Mathias Schubert
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.
196 pages, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 23. november 2010 |
| ISBN13 | 9783642062285 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 196 |
| Mål | 155 × 235 × 11 mm · 299 g |
| Språk | Engelsk |