Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12. februar 2010
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Pris
NOK 1.059

Bestillingsvarer

Forventes levert 15. - 23. jun

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 12. februar 2010
ISBN13 9783642065699
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 420
Mål 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Språk Tysk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver