Fortell venner om denne varen:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition
Pris
NOK 1.079
Bestillingsvarer
Forventes levert 29. jun - 7. jul
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 12. februar 2010 |
| ISBN13 | 9783642065965 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 378 |
| Mål | 155 × 235 × 21 mm · 639 g |
| Språk | Tysk |
| Redaktør | Bhushan, Bharat |
| Redaktør | Fuchs, Harald |