Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 12. februar 2010
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Pris
NOK 1.079

Bestillingsvarer

Forventes levert 29. jun - 7. jul
Legg til iMusic ønskeliste
eller

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 12. februar 2010
ISBN13 9783642065965
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 378
Mål 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Språk Tysk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver