Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - 30. november 2010
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Pris
NOK 1.069

Bestillingsvarer

Forventes levert 24. jun - 2. jul

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 30. november 2010
ISBN13 9783642093418
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 387
Mål 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
Språk Tysk  
Redaktør Bhushan, Bharat
Redaktør Fuchs, Harald
Redaktør Tomitori, Masahiko

Mere med samme udgiver