Fortell venner om denne varen:
Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition
Pris
NOK 1.079
Bestillingsvarer
Forventes levert 1. - 9. jul
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology
Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.
279 pages, 14 black & white tables, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 22. november 2010 |
| ISBN13 | 9783642098703 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 224 |
| Mål | 150 × 220 × 10 mm · 429 g |
| Språk | Tysk |
| Redaktør | Bhushan, Bharat |
| Redaktør | Fuchs, Harald |