Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences - Sascha Sadewasser - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642271137 - 30. november 2013
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Sascha Sadewasser
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences

Pris
NOK 969

Bestillingsvarer

Forventes levert 11. - 19. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Sascha Sadewasser

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

290 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 30. november 2013
ISBN13 9783642271137
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 334
Mål 156 × 236 × 23 mm   ·   485 g
Språk Fransk  
Redaktør Glatzel, Thilo
Redaktør Sadewasser, Sascha

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Sascha Sadewasser