Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - S Morita - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627729 - 23. oktober 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

S Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Pris
NOK 2.239

Bestillingsvarer

Forventes levert 25. aug - 8. sep
Få varsel om nye utgivelser fra S Morita

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

458 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 23. oktober 2012
ISBN13 9783642627729
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 440
Mål 155 × 235 × 24 mm   ·   639 g
Språk Tysk  
Redaktør Meyer, E.
Redaktør Morita, S.
Redaktør Wiesendanger, Roland

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med S Morita ( f.eks. Pocketbok )