Fortell venner om denne varen:
Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers G Nther Bauer Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition
Pris
NOK 509
Bestillingsvarer
Forventes levert 25. nov - 3. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra G Nther Bauer
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers
G Nther Bauer
The characterization of epitaxial layers and their surfaces has benefitted a lot from the enormous progress of optical analysis techniques during the last decade.
429 pages, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 14. desember 2011 |
| ISBN13 | 9783642796807 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 429 |
| Mål | 155 × 235 × 23 mm · 625 g |
| Språk | Tysk |
| Redaktør | Bauer, Gunther |
| Redaktør | Richter, Wolfgang |