Fortell venner om denne varen:
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences J. Bourgoin Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition
Pris
NOK 999
Bestillingsvarer
Forventes levert 6. - 14. okt
Få varsel om nye utgivelser fra J. Bourgoin
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences
J. Bourgoin
In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.
295 pages, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 8. desember 2011 |
| ISBN13 | 9783642818349 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 295 |
| Mål | 155 × 235 × 17 mm · 449 g |
| Språk | Engelsk |