Fortell venner om denne varen:
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
Pris
NOK 829
Bestillingsvarer
Forventes levert 26. okt - 3. nov
Legg til iMusic ønskeliste
eller
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) methods: the indispensable X-ray characterization methods used for phase analysis, epitaxial relationship determination, advanced analytical and data fitting techniques, and grazing incidence diffraction.
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 12. august 2025 |
| ISBN13 | 9789819659449 |
| Utgivere | Springer Nature Switzerland AG |
| Antall sider | 186 |
| Mål | 150 × 220 × 20 mm · 453 g |
| Redaktør | Evans, Paul G. |
| Redaktør | Sando, Daniel |
| Redaktør | Valanoor, Nagarajan |