X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films -  - Bøker - Springer Nature Switzerland AG - 9789819659449 - 12. august 2025
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films

Pris
NOK 829

Bestillingsvarer

Forventes levert 26. okt - 3. nov
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) methods: the indispensable X-ray characterization methods used for phase analysis, epitaxial relationship determination, advanced analytical and data fitting techniques, and grazing incidence diffraction.

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 12. august 2025
ISBN13 9789819659449
Utgivere Springer Nature Switzerland AG
Antall sider 186
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   453 g
Redaktør Evans, Paul G.
Redaktør Sando, Daniel
Redaktør Valanoor, Nagarajan

Mer fra samme **utgiver**