Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - Bøker - Springer Science+Business Media - 9780306455964 - 30. april 1997
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 1997 edition

Pris
NOK 1.759

Bestillingsvarer

Forventes levert 26. okt - 9. nov
Få varsel om nye utgivelser fra Samuel H Cohen
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


250 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 30. april 1997
ISBN13 9780306455964
Utgivere Springer Science+Business Media
Antall sider 250
Mål 178 × 254 × 16 mm   ·   680 g
Redaktør Cohen, Samuel H.
Redaktør Lightbody, Marcia L.

Flere i samme serie

Mer fra samme **utgiver**