Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475793277 - 4. juni 2013
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Pris
NOK 1.749

Bestillingsvarer

Forventes levert 21. aug - 4. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Samuel H Cohen
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


259 pages, 250 black & white illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 4. juni 2013
ISBN13 9781475793277
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 250
Mål 178 × 254 × 14 mm   ·   462 g
Språk Engelsk  
Redaktør Cohen, Samuel H.
Redaktør Lightbody, Marcia L.

Mer med Samuel H Cohen

Vis alle

Flere i samme serie

Mer fra samme **utgiver**