Fortell venner om denne varen:
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H Cohen Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition
Pris
NOK 1.749
Bestillingsvarer
Forventes levert 21. aug - 4. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Samuel H Cohen
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2
Samuel H Cohen
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
259 pages, 250 black & white illustrations, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 4. juni 2013 |
| ISBN13 | 9781475793277 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 250 |
| Mål | 178 × 254 × 14 mm · 462 g |
| Språk | Engelsk |
| Redaktør | Cohen, Samuel H. |
| Redaktør | Lightbody, Marcia L. |
Mer med Samuel H Cohen
Vis alleFlere i samme serie
Mer fra samme **utgiver**
Se alt med Samuel H Cohen ( f.eks. Pocketbok og Innbunden bok )