Fortell venner om denne varen:
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics Ullrich Pietsch 2nd ed. 2004 edition
Pris
NOK 1.429
Bestillingsvarer
Forventes levert 9. - 23. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Ullrich Pietsch
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics
Ullrich Pietsch
During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.
428 pages, 389 black & white illustrations, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 27. august 2004 |
| ISBN13 | 9780387400921 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 408 |
| Mål | 155 × 235 × 23 mm · 816 g |
| Språk | Engelsk |