High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400921 - 27. august 2004
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004 edition

Pris
NOK 1.429

Bestillingsvarer

Forventes levert 9. - 23. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Ullrich Pietsch
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.


428 pages, 389 black & white illustrations, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 27. august 2004
ISBN13 9780387400921
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 408
Mål 155 × 235 × 23 mm   ·   816 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**