High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923073 - 12. desember 2011
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004. Softcover reprint of the original 2n edition

Pris
NOK 1.069

Bestillingsvarer

Forventes levert 13. - 27. aug
Få varsel om nye utgivelser fra Ullrich Pietsch
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.


408 pages, 389 black & white illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 12. desember 2011
ISBN13 9781441923073
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 408
Mål 155 × 235 × 22 mm   ·   594 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**