Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387465463 - 21. juni 2007
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 2nd ed. 2007 edition

Pris
NOK 2.249

Bestillingsvarer

Forventes levert 14. - 28. aug
Få varsel om nye utgivelser fra Manoj Sachdev
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.


328 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 21. juni 2007
ISBN13 9780387465463
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 328
Mål 155 × 235 × 20 mm   ·   721 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**