Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441942852 - 10. november 2010
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Manoj Sachdev
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007 edition

Pris
NOK 2.039

Bestillingsvarer

Forventes levert 22. - 30. jul
Få varsel om nye utgivelser fra Manoj Sachdev

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

328 pages, black & white illustrations

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 10. november 2010
ISBN13 9781441942852
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 328
Mål 155 × 235 × 18 mm   ·   494 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Manoj Sachdev ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )