Fortell venner om denne varen:
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications Nan Yao
Pris
NOK 809
Bestillingsvarer
Forventes levert 8. - 22. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Nan Yao
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Nan Yao
This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.
408 pages, black & white illustrations
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 14. april 2011 |
| ISBN13 | 9780521158596 |
| Utgivere | Cambridge University Press |
| Antall sider | 408 |
| Mål | 169 × 246 × 24 mm · 668 g |
| Språk | Engelsk |
| Redaktør | Yao, Nan (Princeton University, New Jersey) |