Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402032073 - 7. november 2005
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Erik Larsson
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

Pris
NOK 1.469

Bestillingsvarer

Forventes levert 30. sep - 8. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Erik Larsson

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 7. november 2005
ISBN13 9781402032073
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 388
Mål 156 × 232 × 23 mm   ·   1,09 kg
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Erik Larsson