Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909305 - 16. november 2009
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Pris
NOK 1.759

Bestillingsvarer

Forventes levert 12. - 26. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Rajesh Garg
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.


212 pages, 28 black & white tables, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 16. november 2009
ISBN13 9781441909305
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 212
Mål 159 × 238 × 24 mm   ·   508 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**