Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489985101 - 28. november 2014
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Pris
NOK 1.069

Bestillingsvarer

Forventes levert 9. - 17. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Rajesh Garg

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 28. november 2014
ISBN13 9781489985101
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 212
Mål 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Rajesh Garg ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )