Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Bøker - Springer London Ltd - 9781447124696 - 13. januar 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

Pris
NOK 1.409

Bestillingsvarer

Forventes levert 17. - 25. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Tomi Laurila
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


240 pages, 113 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 13. januar 2012
ISBN13 9781447124696
Utgivere Springer London Ltd
Antall sider 218
Mål 155 × 235 × 18 mm   ·   453 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**