Fortell venner om denne varen:
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems Tomi Laurila 2012 edition
Pris
NOK 1.409
Bestillingsvarer
Forventes levert 17. - 25. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Tomi Laurila
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems
Tomi Laurila
This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.
240 pages, 113 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 13. januar 2012 |
| ISBN13 | 9781447124696 |
| Utgivere | Springer London Ltd |
| Antall sider | 218 |
| Mål | 155 × 235 × 18 mm · 453 g |
| Språk | Engelsk |