Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Bøker - Springer London Ltd - 9781447160687 - 22. februar 2014
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

Pris
NOK 1.489

Bestillingsvarer

Forventes levert 20. - 28. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Tomi Laurila
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


218 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 22. februar 2014
ISBN13 9781447160687
Utgivere Springer London Ltd
Antall sider 218
Mål 155 × 235 × 15 mm   ·   317 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**