Fortell venner om denne varen:
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems Tomi Laurila 2012 edition
Pris
NOK 1.489
Bestillingsvarer
Forventes levert 20. - 28. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Tomi Laurila
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems
Tomi Laurila
This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.
218 pages, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 22. februar 2014 |
| ISBN13 | 9781447160687 |
| Utgivere | Springer London Ltd |
| Antall sider | 218 |
| Mål | 155 × 235 × 15 mm · 317 g |
| Språk | Engelsk |