Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 27. desember 2011
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Pris
NOK 999

Bestillingsvarer

Forventes levert 3. - 11. jun

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 27. desember 2011
ISBN13 9781461395379
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 372
Mål 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Språk Engelsk  
Redaktør Mureinik, Inez

Se alt med Lev S. Zevin ( f.eks. Pocketbok )