Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 8. juni 2013
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Pris
NOK 1.039

Bestillingsvarer

Forventes levert 22. - 30. jul
Få varsel om nye utgivelser fra Patrick Echlin
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 8. juni 2013
ISBN13 9781475790290
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 454
Mål 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Språk Engelsk  

Mer med Patrick Echlin

Vis alle

Mer fra samme **utgiver**