Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4. juni 2013
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Pris
NOK 1.569

Bestillingsvarer

Forventes levert 10. - 18. jun

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 4. juni 2013
ISBN13 9781489915245
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 462
Mål 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Språk Engelsk  
Redaktør Thong, John T.L.

Mere med samme udgiver

Se alt med John T L Thong ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )