Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Bøker - Springer London Ltd - 9781848820586 - 1. desember 2008
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Pris
NOK 1.749

Bestillingsvarer

Forventes levert 13. - 27. aug
Få varsel om nye utgivelser fra Edmund G. Seebauer
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 1. desember 2008
ISBN13 9781848820586
Utgivere Springer London Ltd
Antall sider 298
Mål 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**