Fortell venner om denne varen:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Edmund G. Seebauer Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition
Pris
NOK 1.549
Bestillingsvarer
Forventes levert 20. - 28. jul
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes
Edmund G. Seebauer
"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.
298 pages, 30 black & white tables, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 22. oktober 2010 |
| ISBN13 | 9781849968201 |
| Utgivere | Springer London Ltd |
| Antall sider | 298 |
| Mål | 155 × 235 × 16 mm · 435 g |
| Språk | Engelsk |
Mer med Edmund G. Seebauer
Vis alleMere med samme udgiver
Se alt med Edmund G. Seebauer ( f.eks. Pocketbok og Innbunden bok )