Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Bøker - Springer London Ltd - 9781849968201 - 22. oktober 2010
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Pris
NOK 1.549

Bestillingsvarer

Forventes levert 20. - 28. jul
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 22. oktober 2010
ISBN13 9781849968201
Utgivere Springer London Ltd
Antall sider 298
Mål 155 × 235 × 16 mm   ·   435 g
Språk Engelsk  

Mer med Edmund G. Seebauer

Vis alle

Mere med samme udgiver