Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Bøker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 1. februar 2019
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Få en e-post når varen er tilgjengelig
Har du en profil? Logg inn
Få varsel om nye utgivelser fra Ireneusz Mrozek

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 1. februar 2019
ISBN13 9783030081980
Utgivere Springer Nature Switzerland AG
Antall sider 135
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Språk Tysk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Ireneusz Mrozek ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )