Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences - - Bøker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030092986 - 4. januar 2019
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition

Pris
NOK 2.139

Bestillingsvarer

Forventes levert 5. - 13. okt

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 4. januar 2019
ISBN13 9783030092986
Utgivere Springer Nature Switzerland AG
Antall sider 521
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   757 g
Språk Tysk  
Redaktør Glatzel, Thilo
Redaktør Sadewasser, Sascha

Mer fra samme **utgiver**