Fortell venner om denne varen:
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences 2018 edition
Pris
NOK 2.109
Bestillingsvarer
Forventes levert 1. - 9. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences
521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 19. mars 2018 |
| ISBN13 | 9783319756868 |
| Utgivere | Springer International Publishing AG |
| Antall sider | 521 |
| Mål | 242 × 167 × 38 mm · 986 g |
| Språk | Tysk |
| Redaktør | Glatzel, Thilo |
| Redaktør | Sadewasser, Sascha |