Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences -  - Bøker - Springer International Publishing AG - 9783319756868 - 19. mars 2018
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences 2018 edition

Pris
NOK 2.109

Bestillingsvarer

Forventes levert 1. - 9. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 19. mars 2018
ISBN13 9783319756868
Utgivere Springer International Publishing AG
Antall sider 521
Mål 242 × 167 × 38 mm   ·   986 g
Språk Tysk  
Redaktør Glatzel, Thilo
Redaktør Sadewasser, Sascha

Mer fra samme **utgiver**