Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Bøker - Springer International Publishing AG - 9783031442322 - 7. februar 2024
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation 2024 edition

Pris
NOK 889

Bestillingsvarer

Forventes levert 9. - 17. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Fangzhou Xia
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).


370 pages, 200 Tables, color; 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white; XXIV, 370

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 7. februar 2024
ISBN13 9783031442322
Utgivere Springer International Publishing AG
Antall sider 366
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   823 g
Språk Tysk  

Mer fra samme **utgiver**