Fortell venner om denne varen:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation Fangzhou Xia 2024 edition
Pris
NOK 889
Bestillingsvarer
Forventes levert 9. - 17. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Fangzhou Xia
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
370 pages, 200 Tables, color; 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white; XXIV, 370
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 7. februar 2024 |
| ISBN13 | 9783031442322 |
| Utgivere | Springer International Publishing AG |
| Antall sider | 366 |
| Mål | 150 × 220 × 20 mm · 823 g |
| Språk | Tysk |