Fortell venner om denne varen:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation Fangzhou Xia
Pris
NOK 669
Bestillingsvarer
Forventes levert 27. jul - 4. aug
Få varsel om nye utgivelser fra Fangzhou Xia
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 7. februar 2025 |
| ISBN13 | 9783031442353 |
| Utgivere | Springer International Publishing AG |
| Antall sider | 366 |
| Mål | 150 × 220 × 10 mm · 664 g |
| Språk | Tysk |