Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Bøker - Springer International Publishing AG - 9783031442353 - 7. februar 2025
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

Pris
NOK 669

Bestillingsvarer

Forventes levert 27. jul - 4. aug
Få varsel om nye utgivelser fra Fangzhou Xia
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 7. februar 2025
ISBN13 9783031442353
Utgivere Springer International Publishing AG
Antall sider 366
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   664 g
Språk Tysk  

Mer fra samme **utgiver**