Fortell venner om denne varen:
Synthetic Polymeric Membranes: Characterization by Atomic Force Microscopy - Springer Laboratory K. C. Khulbe 2008 edition
Pris
NOK 959
Bestillingsvarer
Forventes levert 30. nov - 8. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra K. C. Khulbe
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Synthetic Polymeric Membranes: Characterization by Atomic Force Microscopy - Springer Laboratory
K. C. Khulbe
Researchers in polymeric membranes as well as R&D professionals will find this work an essential addition to the literature. It concentrates on the method recently developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an Atomic Force Microscope (AFM), which is fast becoming a very important tool.
198 pages, 146 black & white illustrations, 51 black & white tables, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 17. desember 2007 |
| ISBN13 | 9783540739937 |
| Utgivere | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antall sider | 198 |
| Mål | 155 × 235 × 14 mm · 476 g |
| Språk | Engelsk |