Synthetic Polymeric Membranes: Characterization by Atomic Force Microscopy - Springer Laboratory - K. C. Khulbe - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093272 - 22. november 2010
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Synthetic Polymeric Membranes: Characterization by Atomic Force Microscopy - Springer Laboratory Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Pris
NOK 1.059

Bestillingsvarer

Forventes levert 9. - 17. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra K. C. Khulbe
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Researchers in polymeric membranes as well as R&D professionals will find this work an essential addition to the literature. It concentrates on the method recently developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an Atomic Force Microscope (AFM), which is fast becoming a very important tool.


198 pages, 146 black & white illustrations, 51 black & white tables, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 22. november 2010
ISBN13 9783642093272
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 198
Mål 155 × 235 × 11 mm   ·   308 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**