Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology - Seizo Morita - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642014949 - 1. oktober 2009
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Seizo Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology 2009 edition

Pris
NOK 2.109

Bestillingsvarer

Forventes levert 30. nov - 8. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Seizo Morita

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution;

419 pages, 28 black & white illustrations, 77 colour illustrations, 7 black & white tables, biograph

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 1. oktober 2009
ISBN13 9783642014949
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sjanger Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects
Antall sider 401
Mål 155 × 235 × 25 mm   ·   703 g
Språk Fransk  
Redaktør Giessibl, Franz J.
Redaktør Morita, Seizo
Redaktør Wiesendanger, Roland

Mer med Seizo Morita

Vis alle

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Seizo Morita